Rise-2026型干濕兩用激光粒度分析儀

技術(shù)指標(biāo)：

1、測(cè)量范圍：濕法：0.05～800微米

            干法：0.1～800微米

2、準(zhǔn)確性誤差：<±1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）

3、重復(fù)性偏差：<±1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）

4、電氣要求：交流220±10V，50Hz, 200W

5、外觀尺寸：950×330×300mm

6、重量：50KG

Rise-2026型干濕兩用激光粒度分析儀工作原理：

 Rise-2026型采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。

顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律，再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對(duì)比較簡(jiǎn)單，但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會(huì)存在偏差，從而有約束擬合計(jì)算出的測(cè)試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。

無約束擬合反演即測(cè)試前對(duì)顆粒群不做任何假設(shè)，通過光強(qiáng)直接準(zhǔn)確地計(jì)算出顆粒群的粒度分布。這種計(jì)算前提是合理的探測(cè)器設(shè)計(jì)和粒度分級(jí)，給設(shè)備本身提出很高的要求。Rise-2026型采用*的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測(cè)器陣列和合理的粒度分級(jí)，從而能夠準(zhǔn)確地測(cè)量顆粒群的粒度分布。

Rise-2026型技術(shù)特點(diǎn)：

測(cè)試穩(wěn)定的基礎(chǔ)：只有系統(tǒng)能夠提供穩(wěn)定的光信號(hào)，才能夠充分保證測(cè)試數(shù)據(jù)的穩(wěn)定。Rise-2026型選用He-Ne氣體激光光源，波長(zhǎng)0.6328微米，波長(zhǎng)短，線寬窄，穩(wěn)定性好，使用壽命大于25000小時(shí)，能夠很好的為系統(tǒng)提供穩(wěn)定的激光源信號(hào)。

數(shù)據(jù)可靠的保證：保證測(cè)試數(shù)據(jù)可靠首先是信號(hào)探測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)合理，被測(cè)樣品分散效果的優(yōu)劣和被測(cè)分散液的均勻程度是得出真實(shí)結(jié)果的另一決定性因素。

探測(cè)器：光電探測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)*，靈敏度高，主檢測(cè)器一個(gè)，輔助檢測(cè)器多個(gè)，采用非均勻性交叉三維扇形矩陣排列，zui大檢測(cè)角達(dá)到105度，充分保證了信號(hào)探測(cè)的全面性。

光路：采用一個(gè)量程設(shè)計(jì)，會(huì)聚光路*，減少了傅立葉透鏡組，使測(cè)量范圍更寬，分辨率更高，光路免調(diào)。

功能強(qiáng)大的分析軟件：

 PADMAS顆粒粒度測(cè)量分析系統(tǒng)（Particle Diameter Measure & Analysis System）功能強(qiáng)大，測(cè)試數(shù)據(jù)可以做平均、統(tǒng)計(jì)、比較和模式轉(zhuǎn)換等處理，具有微分分布、累積分布、標(biāo)準(zhǔn)分級(jí)、R-R分布、自定義分級(jí)、按目分級(jí)和數(shù)量分布等多種格式。在0.02~2000微米內(nèi)默認(rèn)分級(jí)130級(jí)，在量程范圍內(nèi)，從1~130級(jí)可自定義分級(jí)。測(cè)試報(bào)告中有粒度分布圖形和粒度數(shù)據(jù)圖表，有D10、D50、D90、平均粒徑和比表面積等特征參數(shù)，有四個(gè)自定義參數(shù)根據(jù)需要自行輸入，重量比表面積與體積比表面積可以互換。粒度數(shù)據(jù)可保存到EXCEL。支持中、英文格式測(cè)試報(bào)告打印，頁(yè)眉和頁(yè)腳可根據(jù)需要進(jìn)行修改，有打印預(yù)覽功能，能夠?qū)⒘６确植紙D形和粒度數(shù)據(jù)圖表存成圖片或PDF格式，便與WORD交互使用?？筛鶕?jù)用戶需要增加其他處理功能。操作簡(jiǎn)便：標(biāo)準(zhǔn)、量化、簡(jiǎn)單的操作能夠在短時(shí)間內(nèi)熟練掌握，測(cè)試數(shù)據(jù)過程在1分鐘內(nèi)完成。

可視性強(qiáng)：測(cè)試軟件界面友好，測(cè)試過程清晰可見，瞬時(shí)刷新，可視性強(qiáng)，可隨時(shí)觀察儀器運(yùn)行狀況、測(cè)試數(shù)據(jù)波動(dòng)清況，分析所測(cè)數(shù)據(jù)的真實(shí)性、可靠性。循環(huán)、超聲、攪拌和排液等操作鍵都在智能化觸摸式操作面板上，標(biāo)準(zhǔn)、量化、簡(jiǎn)單的操作，有效縮短了測(cè)試時(shí)間，降低了對(duì)操作人員的要求。

設(shè)備維護(hù)：全面的技術(shù)培訓(xùn)和內(nèi)容詳盡的使用操作說明書、軟件在線幫助使操作人員能準(zhǔn)確操作、解決疑問、排除故障。

：根據(jù)樣品的密度、異性、脆性、磁性、毒性、流動(dòng)性、團(tuán)聚性、溶解性和物理化學(xué)反應(yīng)等理化特性，我們總結(jié)出了一套科學(xué)、系統(tǒng)和完整的分散測(cè)試方案，隨著儀器提供給用戶。我們既銷售儀器，又提供分散測(cè)試方案。

Rise-2026型硬件簡(jiǎn)介：

硬件設(shè)計(jì)良好，按照Q/01RZ01-2004標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)，元器件專業(yè)制造，性能穩(wěn)定可靠，無易損配件。

分散方法

Rise-2026型集合了Rise系列濕法激光粒度分析儀和干法激光粒度分析儀的分散方法，干樣干測(cè)，濕樣濕測(cè)。

干法分散：

在干法狀態(tài)下，樣品通過自動(dòng)干粉進(jìn)樣器均勻輸送到高壓氣流中，在高壓氣流的帶動(dòng)下連續(xù)高速噴射到分散器中，在到達(dá)分散器出口處樣品已經(jīng)被充分分散，穿過激光束之后樣品進(jìn)入收集器中，同時(shí)電腦立刻顯示出粒度分布信息。

1.干法分散，不需要任何分散劑和溶劑。分散原理如下圖所示

分散管摩擦產(chǎn)生的剪切力 顆粒間碰撞產(chǎn)生的摩擦剪切力   顆粒和分散管壁之間的碰撞

2.采用靜音無油空氣壓縮機(jī)，配以高效冷凝器，保證產(chǎn)生純凈壓縮空氣；

3.瞬時(shí)分散、瞬時(shí)測(cè)量，測(cè)試精度快，分析效率高，從進(jìn)樣到出結(jié)果一分鐘內(nèi)完成；

濕法分散：

Rise-2026型超聲分散系統(tǒng)能夠?qū)Ρ粶y(cè)樣品進(jìn)行充分的分散。大功率超聲器（100W），超聲時(shí)間全自動(dòng)操作和觸摸式按鍵連續(xù)調(diào)節(jié)，設(shè)置時(shí)間數(shù)字顯示，超聲時(shí)間0~9分50秒連續(xù)可調(diào), 可根據(jù)樣品分散的難易程度設(shè)置超聲時(shí)間，良好的屏蔽處理使超聲分散和樣品測(cè)試可同時(shí)進(jìn)行，即使具有*團(tuán)聚性的顆粒也能夠充分分散以獲得真實(shí)的粒度分布數(shù)據(jù)。樣品分散池（400ml）與主機(jī)一體,不銹鋼材質(zhì)，設(shè)計(jì)*，呈圓形，循環(huán)排液方便，不留塵垢，便于清洗。采用濕法分散，可用蒸餾水、純凈水和酒精等液體作分散介質(zhì)。

分散液均化：分散液的均勻程度是向探測(cè)系統(tǒng)提供穩(wěn)定散射光信號(hào)的前提，Rise-2026型采用連續(xù)可調(diào)的攪拌和循環(huán)充分保證了分散液的均勻度。

攪拌系統(tǒng)：根據(jù)被測(cè)樣品的特性選擇合適的攪拌速度，防止顆粒沉淀，使分散液混合均勻，攪拌轉(zhuǎn)速全自動(dòng)操作和觸摸式按鍵連續(xù)可調(diào)，設(shè)置速度數(shù)字顯示，攪拌轉(zhuǎn)速0~3000轉(zhuǎn)/分鐘連續(xù)可調(diào)，測(cè)試過程中同時(shí)開啟超聲可避免因攪拌速度過快產(chǎn)生氣泡造成的測(cè)試誤差。

循環(huán)系統(tǒng)：根據(jù)被測(cè)樣品的特性選擇合適的循環(huán)泵速，防止循環(huán)管路中顆粒沉淀，循環(huán)泵速全自動(dòng)操作和觸摸式按鍵連續(xù)可調(diào)，設(shè)置速度數(shù)字顯示，循環(huán)泵速0~5000轉(zhuǎn)/分鐘連續(xù)可調(diào)，測(cè)試過程中同時(shí)開啟超聲既可避免因循環(huán)速度過快產(chǎn)生氣泡造成的測(cè)試誤差，又能夠防止顆粒在循環(huán)過程中產(chǎn)生團(tuán)聚。